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  • LQ-TS耐冷熱交變實驗箱
    LQ-TS耐冷熱交變實驗箱

    耐冷熱交變實驗箱與觸摸屏行業(yè)高低溫沖擊試驗箱主要測試觸摸屏產品或觸摸屏行業(yè)相關的產品及零件等材料在在瞬間下經高溫(熱沖擊)及低溫(冷沖擊)的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。可用來做研發(fā)、生產、檢驗、試驗、實驗用。

    更新時間:2025-04-02型號:LQ-TS
  • LQ-TS交變冷熱沖擊箱
    LQ-TS交變冷熱沖擊箱

    交變冷熱沖擊箱選擇東莞市柳沁檢測儀器有限公司規(guī)模大,產量大、銷量也大。生產高低溫沖擊試驗箱的人員基本上平均有10年以上的工作經驗,并擁有一批先進的生產設備,其中主要包含:折彎機、剪板機、 剪角機、電鉆、自動沖床、減角機,噴涂老化房、設備成型后擁有一批高科技人才從焊接、組裝、制冷安裝、電路安裝、調試等環(huán)節(jié),出廠具備出廠檢驗書,檢測設備先進工具,九點檢測儀器等相關設備

    更新時間:2025-04-07型號:LQ-TS
  • 可程序冷熱沖擊試驗機
    可程序冷熱沖擊試驗機

    可程序冷熱沖擊試驗機廠家選擇東莞市柳沁檢測儀器有限公司規(guī)模大,產量大、銷量也大。生產高低溫沖擊試驗箱的人員基本上平均有10年以上的工作經驗,并擁有一批先進的生產設備,其中主要包含:折彎機、剪板機、 剪角機、電鉆、自動沖床、減角機,噴涂老化房、設備成型后擁有一批高科技人才從焊接、組裝、制冷安裝、電路安裝、調試等環(huán)節(jié),出廠具備出廠檢驗書,檢測設備先進工具,九點檢測儀器等相關設備。

    更新時間:2025-04-07型號:
  • LQ-TS-80可程序冷熱沖擊試驗機
    LQ-TS-80可程序冷熱沖擊試驗機

    可程序冷熱沖擊試驗機擊廠家柳沁科技所有試驗設備嚴格按照設備對應的標準、行業(yè)標準制造各類環(huán)境試驗設備,實現(xiàn)的質量,中國化的價格。柳沁擁有一個從境試驗設備研發(fā)的科研機構,具備成熟的環(huán)境試驗設備研制手段與試驗室,聚集了行業(yè)內一批優(yōu)秀的各類人才和專家,強大的研發(fā)團隊帶著國內環(huán)試技術發(fā)展方向.具有同行業(yè)的設計手段,合理的工藝布局,先進的制造技術,嚴格的質量保證體系。

    更新時間:2025-04-07型號:LQ-TS-80
  • LQ-TS兩箱吊籃式冷熱沖擊箱
    LQ-TS兩箱吊籃式冷熱沖擊箱

    兩箱吊籃式冷熱沖擊箱|半導體冷熱沖擊試驗機適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。本設備可實際溫度定值或程序控制,柳沁采用 流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動調節(jié)壓縮機制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。制冷及電控關鍵零配件,使柳沁品牌的半導體冷熱沖

    更新時間:2025-04-07型號:LQ-TS
  • LQ-TS電子高低溫沖擊試驗箱
    LQ-TS電子高低溫沖擊試驗箱

    電子高低溫沖擊試驗箱用壓縮機為主的制冷系統(tǒng)制冷產生低溫(也稱冷溫)及在加熱系統(tǒng)中產生的高溫(也稱熱溫)中兩溫度經過控制器操控來回沖擊試驗led產品或配件,檢測其所受的在短時間內經極冷溫及極熱溫的連續(xù)循環(huán)環(huán)境下所能承受的物理變化。

    更新時間:2025-04-07型號:LQ-TS
  • LQ-TS半導體冷熱循環(huán)沖擊試驗箱
    LQ-TS半導體冷熱循環(huán)沖擊試驗箱

    半導體冷熱循環(huán)沖擊試驗箱半導體冷熱沖擊試驗機適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。本設備可實際溫度定值或程序控制,柳沁采用 流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動調節(jié)壓縮機制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。制冷及電控關鍵零配件,使柳沁品牌的半導體冷熱沖

    更新時間:2025-04-07型號:LQ-TS
  • LQ-TS可編程小型吊藍式冷熱沖擊試驗箱
    LQ-TS可編程小型吊藍式冷熱沖擊試驗箱

    可編程小型吊藍式冷熱沖擊試驗箱|半導體冷熱沖擊試驗機適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。本設備可實際溫度定值或程序控制

    更新時間:2025-04-07型號:LQ-TS
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